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集成电路氧化工艺与成膜厚度虚拟仿真软件

时间:2022-12-06   访问量:466

实验编号:U20S03800

关键词:集成电路,氧化工艺,氧化炉,成膜厚度

(一)内容介绍

本虚拟仿真实验包括:(11#清洗液的配制及清洗;(22#清洗液的配制及清洗;(3)启动氧化炉,设计氧化工艺参数;(4)氧化工艺过程验证成膜厚度;(5)降温取样并进行数据验证。

11#清洗液的配制及清洗

wps78.jpg 

22#清洗液的配制及清洗

wps79.jpg 

3)启动氧化炉,设计氧化工艺参数

wps80.jpg 

4)氧化工艺过程验证成膜厚度

wps81.jpg 

5)降温取样并进行数据验证

wps82.jpg 

(二)实验特色和亮点

本实验能够构建集成电路氧化工艺虚拟仿真实验环境,全方位实现了集成电路氧化工艺所涉及的所有知识点的实验探究,把操作应用场景直观呈现,有效地解决了实际实验难以组织实施,也无法承受大批量的学生同时实验的难题;有效地拓展了实验内容的深度和广度,提升了集成电路氧化工艺的学习效果,凸显了虚拟仿真实验的优势。

设置以氧化膜厚度为性能指标,探索氧化工艺各参数对膜厚影响主次及规律实验方案设计,要求学生自主实验方案,利用虚拟仿真实验系统,输入不同工艺参数,得到膜厚等性能指标,自主分析实验结果,有效培养提升了学生实验方案设计与结果分析的能力,为解决复杂问题的综合能力和高阶思维打下坚实基础。

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